Université Lyon 1
Arqus
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  • Domaine : Masters du domaine SCIENCES ET TECHNOLOGIES
  • Diplôme : Master
  • Mention : Chimie et sciences des matériaux
  • Parcours : M2 Conception et cycle de vie des matériaux
  • Unité d'enseignement : Caractérisation des surfaces
Nombre de crédits de l'UE : 3
Code APOGEE : CHM1211M
UE Libre pour ce parcours
UE valable pour le semestre 1 de ce parcours
    Responsabilité de l'UE :
LEONARD DIDIER
 didier.leonarduniv-lyon1.fr
04.37.42.35.54
    Type d'enseignement
Nb heures *
Cours Magistraux (CM)
13 h
Travaux Dirigés (TD)
13 h
Travaux Pratiques (TP)
3 h
Durée de projet en autonomie (PRJ)
0 h
Durée du stage
0 h
Effectif Cours magistraux (CM)
210 étudiants
Effectif Travaux dirigés (TD)
35 étudiants
Effectif Travaux pratiques (TP)
4 étudiants

* Ces horaires sont donnés à titre indicatif.

    Pré-requis :

Bases de mécanique quantique (structure électronique)

Classe de matériaux

    Compétences attestées (transversales, spécifiques) :

Vue globale des techniques de caractérisation de surface

Identification de la / des technique(s) approprié(e)s pour résoudre une problématique liée la chimie de surface

Être capable d’échanger avec des spécialistes des techniques de caractérisation de surface

    Programme de l'UE / Thématiques abordées :

Le cours s’articulera autour des axes suivants :

- Rappels sur les forces intermoléculaires

- Définition des notions de surface, interface, interphase.

- Techniques et méthodologies permettant de déterminer l’énergie de surface d’un solide sous différentes formes (film, poudres, fibres)

- Définition et interprétation du phénomène d’hystérésis de mouillage

- Définition des paramètres analytiques et concepts de base permettant la comparaison des différentes méthodes spectroscopiques d’analyse de surface

- Présentation des généralités sur les interactions photons-matière, électrons-matière et ions-matière

- Description des avantages et inconvénients des méthodes d’analyse XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), AES (Auger Electron Spectroscopy), XRF (X-ray Fluorescence), EPMA (Electron Probe Micro-Analysis), ISS (Ion Scattering Spectroscopy), SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) et ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) : instrumentation, analyse qualitative et analyse quantitative, profondeur d’information, imagerie, applications

Date de la dernière mise-à-jour : 11/04/2018
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