Partie A : MICROSCOPIES : Microscopie électronique, diffraction électronique , microscopies en champ proche A1 - Microscopie électronique, diffraction électronique A2 - Microscopie à balayage A3 - Microscopie en champ proche (Concepts de base)
Partie B : SPECTROSCOPIES :Techniques d'analyse de surface pour caractériser les propriétés physico-chimiques des surfaces et des films minces B1 – Introduction
B2 - Interactions des rayons X avec la matière
B3 - Microsonde électronique
B4 - Low Energy Electron Induced X-ray Spectrometry (LEEIXS)
B5 - Spectroscopie photoélectronique (XPS, UPS)
B6 - Spectroscopie des électrons Auger (AES) B7 - Interaction des ions avec la matière
B8 - Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
B9 - Spectrométrie de diffusion d''ions (ISS)
Liste des autres Parcours / Spécialité / Filière / Option utilisant cette UE :
SELECT MEN_ID, `MEN_DIP_ABREVIATION`, `MEN_TITLE`, `PAR_TITLE`, `PAR_ID` FROM parcours INNER JOIN ue_parcours ON PAR_ID_FK=PAR_ID INNER JOIN mention ON MEN_ID = PAR_MENTION_FK WHERE PAR_ACTIVATE = 0 AND UE_ID_FK='7555' ORDER BY `MEN_DIP_ABREVIATION`, `MEN_TITLE`, `PAR_TITLE`
