Le cours s’articulera autour des axes suivants :
- Rappels sur les forces intermoléculaires
- Définition des notions de surface, interface, interphase.
- Techniques et méthodologies permettant de déterminer l’énergie de surface d’un solide sous différentes formes (film, poudres, fibres)
- Définition et interprétation du phénomène d’hystérésis de mouillage
- Définition des paramètres analytiques et concepts de base permettant la comparaison des différentes méthodes spectroscopiques d’analyse de surface
- Présentation des généralités sur les interactions photons-matière, électrons-matière et ions-matière
- Description des avantages et inconvénients des méthodes d’analyse XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), AES (Auger Electron Spectroscopy), XRF (X-ray Fluorescence), EPMA (Electron Probe Micro-Analysis), ISS (Ion Scattering Spectroscopy), SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) et ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) : instrumentation, analyse qualitative et analyse quantitative, profondeur d’information, imagerie, applications
