Université Lyon 1
Arqus
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  • Domaine : Masters du domaine SCIENCES ET TECHNOLOGIES
  • Diplôme : Master
  • Mention : Physique fondamentale et applications
  • Parcours : M1 Physique fondamentale et applications
  • Unité d'enseignement : Analyse des structures et des nanostructures
Nombre de crédits de l'UE : 3
Code APOGEE : PHY1196M
UE Libre pour ce parcours
UE valable pour le semestre 1 de ce parcours
    Responsabilité de l'UE :
PANCZER GERARD
 gerard.panczeruniv-lyon1.fr
04.72.43.16.06
    Type d'enseignement
Nb heures *
Cours Magistraux (CM)
12 h
Travaux Dirigés (TD)
3 h
Travaux Pratiques (TP)
12.5 h
Durée de projet en autonomie (PRJ)
0 h
Durée du stage
0 h
Effectif Cours magistraux (CM)
210 étudiants
Effectif Travaux dirigés (TD)
35 étudiants
Effectif Travaux pratiques (TP)
18 étudiants

* Ces horaires sont donnés à titre indicatif.

    Compétences attestées (transversales, spécifiques) :
Non rédigé
    Programme de l'UE / Thématiques abordées :

La caractérisation structurale et microstructurale des matériaux, devient de plus en plus importante dans de nombreux secteurs industriels (la chimie de spécialité, la chimie fine, l’électronique, l’aérospatiale, le nucléaire, le domaine pharmaceutique, l’industrie textile, etc.). Cette UE porte sur quelques techniques d’analyse couramment utilisées dans l’industrie et permettant la caractérisation structurale, microstructurale et chimique des matériaux. Cette UE est complémentaire de l’UE « Interaction rayonnement-matière ».

L’objectif premier pour les étudiants est d’être capable de décider du choix d'une technique d’analyse parmi celles étudiées dans l’UE, de comprendre sa mise en œuvre, ses limitations et d’avoir les bases pour interpréter les résultats obtenus. Suite à cet enseignement, les étudiants pourront évaluer la place de ces techniques dans le cas d'analyses comparatives.

Cours

  • Spectroscopie d’absorption infrarouge, FTIR
  • Spectroscopie RAMAN
  • Spectrométrie photo électronique X, XPS
  • Fluorescence X, XRF


Travaux dirigés

  • Diffraction des rayons X, XRD


Travaux pratiques

  • FTIR
  • RAMAN
  • XPS
  • XRF

Evaluation
Comptes rendus de TP ; Examen ecrit final
Session 2
Date de la dernière mise-à-jour : 18/04/2018
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